（美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪）冲击试样缺口投影仪

（美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪）冲击试样缺口投影仪随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行GB/T229-2020《金属夏比冲击试验方法》对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm）

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产品名称：（美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪）冲击试样缺口投影仪
型号：CT-50W
一、产品简介：
随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行GB/T229-2020《金属夏比冲击试验方法》对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，所以在整个试验过程中，试样的加工是否合格会直接影响试验结果。如果试样加工质量不合格，那么其试验结果是不可信的，特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格以及仲裁复查的方便，其质量检验是一个重要的控制手段，目前，我公司通过电子光学投影技术检验实现了切实可行的方法。
二、性能特点：该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓投射到CMOS上，经由采集卡传输到PC，再由分析软件计算出缺口深度、缺口角度、缺口根部半径的数值，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观，消除了不同使用人员之间的操作误差，保存数据为以备日后复查提供可可靠地数据。
三、冲击试样缺口投影仪测量功能
1、冲击试样V型缺口精确测量
2、冲击试样缺口U型精确测量
3、美标、欧标V/U型缺口测量
4、3mm/5mm(V/U型缺口)测量

（美标欧标3mm/5mmVU缺口投影仪）冲击试样缺口投影仪

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